測(cè)試服務(wù)

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測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目預(yù)覽

請(qǐng)和測(cè)試部聯(lián)系，根據(jù)樣品難以程度和耗時(shí)等因素確認(rèn)價(jià)格。

儀器名稱：S4800場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

加速電壓15kV下，二次電子分辨率1nm；加速電壓1kV下（減速模式），二次電子分辨率1.4nm；　　材料的顯微結(jié)構(gòu)，微區(qū)成分分析，低加速電壓可直接觀察不導(dǎo)電試樣。

主要功能及應(yīng)用范圍：

掃描電鏡具有高景深、高分辨率、高放大倍數(shù)，且操作簡(jiǎn)便、樣品制備簡(jiǎn)單等特點(diǎn)�？捎糜谥苯佑^察樣品表面形貌。廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、物理、化學(xué)、地質(zhì)、機(jī)械加工、微電路質(zhì)量檢驗(yàn)、失效分析等領(lǐng)域。

儀器名稱： FEI Tecnai G2 F20場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

儀器參數(shù)：

加速電壓：200kV

高分辨靴 (S-TWIN)

點(diǎn)分辨率：0.24nm；

線分辨率：0.14nmSTEM (HAADF)

分辨率：0.19nm

電子束能量色散：<0.7eV大束流：>100nA；

1nm束斑大束流：>0.5nAEELS (Gatan Enfina)

能量分辨率：0.7eV

EDAX能譜儀 (EDS)：5B~92U

主要功能及應(yīng)用范圍：

可實(shí)現(xiàn)材料微觀組織形貌、晶體結(jié)構(gòu)和微區(qū)成分的同位分析。樣品類型包括金屬材料、金屬基復(fù)合材料和陶瓷及陶瓷基復(fù)合材料的薄膜樣品，以及各種形狀的納米材料等�？蓮V泛應(yīng)用于材料科學(xué)、物理、化學(xué)、地質(zhì)諸多研究領(lǐng)域。

儀器型號(hào)：LABRAM XPLORA

儀器參數(shù)：激發(fā)波長(zhǎng)532nm-638nm主要功能及應(yīng)用范圍：

1. 可用于材料鑒定、組成分析乃至材料的異構(gòu)體區(qū)分：

2. 接受多種形狀的樣品（如瓶裝、小玻璃瓶裝、核磁管裝、片劑、膜劑等）。

儀器名稱：ESCALAB 250 X射線光電子能譜儀

性能指標(biāo)：

能量分辨率≤0.45eV，

空間分辨率≤20μm，

真空度≤2×10-10mbar；

帶俄歇、紫外光電子能譜附件

主要功能及應(yīng)用范圍：

測(cè)試固體樣品表面成分、化學(xué)元素像、化學(xué)價(jià)態(tài)、深度剖析。

樣品要求：適用于非磁性、非放射性和非揮發(fā)性導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣體，粉末、薄膜，無機(jī)物、有機(jī)物、高聚物材料。

塊體樣品：尺寸（長(zhǎng)×寬×高）10 mm×10 mm×3 mm，上下表面平行且平整。樣品無磁性。

粉末樣品：樣品重量：～30 mg，樣品要充分干燥，粉末盡量研細(xì)，樣品無磁性，無腐蝕性。

主要功能及應(yīng)用范圍：

紅外光譜儀可用于中紅外光譜分析。紅外光譜法能提供豐富的有關(guān)分子結(jié)構(gòu)方面的信息，可用于有機(jī)化合物的鑒別；能對(duì)聚合物的化學(xué)性質(zhì)、立體結(jié)構(gòu)、構(gòu)象、序列、取向等提供定性的信息；研究聚合物的主鏈結(jié)構(gòu)、取代基位置、雙鍵位置、側(cè)鏈結(jié)構(gòu)以及老化和降解機(jī)理；對(duì)高分子材料、粘合劑及涂料等組分的定性分析；可用于表面或界面研究。

主要功能及應(yīng)用范圍：紫外-可見分光光度計(jì)可以獲得液體和固體在紫外及近紅外范圍內(nèi)的透射及吸收特性，可以進(jìn)行分子鑒別，材料吸光度測(cè)試，

應(yīng)用于光催化研究、半導(dǎo)體光催化劑的帶邊測(cè)定、液相光催化反應(yīng)動(dòng)力學(xué)表征、貴金屬納米顆粒表面等離子體共振性能表征、半導(dǎo)體薄膜的吸光度測(cè)量、光學(xué)濾光片性能檢測(cè)等。

儀器名稱：視頻光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x

(Video-based, contact angle measuring device)

儀器型號(hào)： OCA20

國(guó)別、廠家：德國(guó) Dataphysics 公司

主要技術(shù)指標(biāo)：樣品臺(tái)規(guī)格： 100*100mm

接觸角測(cè)量范圍： 0～180°±0.1°

表面/界面張力測(cè)量范圍：0.01～2000±0.05 mN/m

測(cè)試溫度范圍：室溫～400 ℃升溫速率：2k/s高性能六倍聚焦透鏡及CCD攝像系統(tǒng)。

主要附件：

垂直注射針架，無需連接軟管

溫度控制單元（TEC 400）

薄膜及紙張支持器（FSC80、FSH30）

電動(dòng)劑量單元（E-MD/2）

TC 400/NHD針加熱溫度控制器

NHD 400針加熱系統(tǒng)

主要功能及應(yīng)用范圍：

本儀器通過光學(xué)視頻的原理，采用座滴法（sessile drop）、懸滴法（Pendent drop）測(cè)量液體的靜態(tài)、動(dòng)態(tài)接觸角及液體的表面/界面張力。廣泛應(yīng)用于納米材料、高分子復(fù)合材料、生物復(fù)合材料、油漆、涂料、涂層、信息材料等領(lǐng)域表面/界面性能的研究。

磁控濺射儀

主要功能及應(yīng)用范圍：

將材料制備成紐扣電池，測(cè)試鈉離子電池的開路電壓，循環(huán)伏安曲線，不同倍率下的循環(huán)曲線，倍率曲線，交流阻抗圖譜等相關(guān)測(cè)試。

適用于各種可應(yīng)用于鈉離子電池正負(fù)的材料，包括各種納米粉體材料、納米薄膜材料。

儀器名稱：氣體吸附儀

儀器型號(hào)：AUTOSORB-1-C

國(guó)別、廠家：美國(guó) QUANTACHROME儀器公司

主要技術(shù)指標(biāo)：

孔徑分析范圍:3.5-5000 Å

比表面測(cè)定下限：0.0005 m²/g

孔體積檢測(cè)限：<0.0001cc/g

壓力范圍：10^-6-0.13MPa

分辨率：0.000025% ofrange

小可分辨相對(duì)壓力（P/P0）：2.6×10^-7（N2）

真空度：3.75×10^-10 mmHg

分析站數(shù)：1

脫氣站數(shù)：2

脫氣溫度：室溫～450 ℃

溫度選擇：1 ℃遞進(jìn)

溫度精度：±1% ofset point

主要功能及應(yīng)用范圍：

本儀器兼具化學(xué)吸附和物理吸附兩種功能�？蓽y(cè)定材料的比表面積、孔徑分布、孔體積分布。適用于聚合物粒子、無機(jī)多孔粒子、催化劑顆粒的吸附特征及化學(xué)吸附現(xiàn)象的研究。

晶片尺寸和類型：?jiǎn)尉?0-200mm；小批量晶片可以大至150mm；156mm x 156mm太陽能硅片；

三維物體；粉末和顆粒；穿孔樣品

工藝溫度： 50 – 500°C ,可定制為更高溫度

基片裝載選件：氣動(dòng)升降機(jī)（手動(dòng)裝載）；手動(dòng)loadlock負(fù)載保護(hù)；半自動(dòng)裝載機(jī)器臂；

前軀體：液體、固體、氣體、臭氧、等離子；高可以連接12個(gè)源、6個(gè)獨(dú)立管道入口

廣泛應(yīng)用于：納米材料、納米科技、半導(dǎo)體、薄膜材料、薄膜沉積以及航空航天領(lǐng)域。

儀器名稱：Rigaku D/max 2550V

儀器參數(shù)：

X射線發(fā)生器：功率18kW（60kV,450mA），Cu旋轉(zhuǎn)陽靶

掃描方式：θ-2θ測(cè)角儀
X射線發(fā)生器穩(wěn)定度：<0.01%

測(cè)角儀精度（2θ）：0.002°

主要功能及應(yīng)用范圍：

適合于物相定性定量分析、晶型鑒別、結(jié)晶度測(cè)定以及晶胞參數(shù)精確測(cè)定等薄膜分析附件，適合于納米材料粒徑尺寸及分布分析

儀器名稱：熱重分析儀-Q500

儀器型號(hào)：TA-Q500 TGA

國(guó)別、廠家：美國(guó)TA公司，簡(jiǎn)稱TA公司

主要技術(shù)指標(biāo)：

溫度測(cè)量范圍：室溫～1000 ℃

升溫速率：0.1～100 ℃/min

天平靈敏度：0.1 μg

天平精確度：0.01 %

天平精度：0.01 %

爐內(nèi)氣氛： N2 (或Air)

動(dòng)態(tài)稱重范圍：1000mg

恒溫溫度準(zhǔn)確度：1℃

恒溫溫度精確度：0.1℃

主要功能及應(yīng)用范圍：

用于測(cè)定試樣在程序溫度下(升溫、降溫、恒溫)質(zhì)量的變化。由此了解物質(zhì)的熱分解過程，評(píng)價(jià)物質(zhì)的熱穩(wěn)定性，探討穩(wěn)定性與物質(zhì)結(jié)構(gòu)及添加劑之間的關(guān)系。研究物質(zhì)降解過程的機(jī)理及降解動(dòng)力學(xué)。

超級(jí)電容器性能測(cè)試

主要功能及應(yīng)用范圍：

將材料制備成電容器，測(cè)試電容器的循環(huán)伏安曲線，不同倍率下的循環(huán)曲線，倍率曲線，交流阻抗圖譜等相關(guān)測(cè)試。

適用于各種可應(yīng)用于電容器正負(fù)的材料，包括各種納米粉體材料、納米薄膜材料。

收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：1000-2000/批次

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